| 產(chǎn)品圖片 | 產(chǎn)品名稱/型號 | | 主要技術(shù)指標 | 價格 從低到高 默認 |
| 工業(yè)用和商用 熱像儀
Ti110 | 美國福祿克FLUKE | 溫度測量范圍 -20 °C至250 °C（-4 °F至482 °F） | 洽詢
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| 工業(yè)用和商用 熱像儀
Ti105 | 美國福祿克FLUKE | 溫度測量范圍 -20 °C至250 °C（-4 °F至482 °F） | 洽詢
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| 通用型熱像儀
Ti100 | 美國福祿克FLUKE | 溫度測量范圍 -20 °C至+ 250 °C（-14 °F至482 °F） | 洽詢
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| 熱像儀
Ti95 | 美國福祿克FLUKE | 溫度測量范圍 -20 °C至+250 °C(-4 °F to +482 °F) | 洽詢
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| 紅外熱像儀
Fluke Ti32 | 美國福祿克FLUKE | 溫度測量范圍（-10 °C以下未經(jīng)校準）-20℃～+600℃ | 洽詢
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| 熱像儀
Ti90 | 美國福祿克FLUKE | 溫度測量范圍 -20 °C至+250 °C(-4 °F to +482 °F) | 洽詢
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| 紅外熱像儀
Ti29 | 美國福祿克FLUKE | 溫度測量范圍 -20 °C ～ +600 °C | 洽詢
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| 紅外熱像儀
Ti27 | 美國福祿克FLUKE | 溫度測量范圍 -20°C ～+600°C | 洽詢
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| 紅外熱像儀
Ti25 | 美國福祿克FLUKE | 溫度量程（-10 °C以下未經(jīng)校準）-20 °C～+350 °C (2個量程) | 洽詢
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| 紅外熱像儀
Ti10 | 美國福祿克FLUKE | 溫度量程（-10 °C以下未經(jīng)校準）:-20 °C~+250 °C（-4 °F～+ 482 °F）
全熱輻射度是:精度：± 2 °C或2 %（取二者中較大者) | 洽詢
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| 紅外熱像儀
Ti9 | 美國福祿克FLUKE | 溫度量程（-10 °C以下未經(jīng)校準）： -20 °C~+250 °C（-4 °F～+ 482 °F） | 洽詢
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| 熱像儀
Ti50FT | 美國福祿克FLUKE | 校準溫度范圍：Ti50: -20 ˚C至350 ˚C，2量程（-4 oF至662 oF） | 洽詢
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| 熱成像儀
Ti55FT | 美國福祿克FLUKE | 校準溫度范圍：Ti55: -20 ˚C至600 ˚C，3量程（-4 oF至1112 oF） | 洽詢
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| 紅外熱像儀
TiR3FT | 美國福祿克FLUKE | 校準溫度范圍：-20 ˚C至100 ˚C（-4 oF至212 oF） | 洽詢
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| 紅外熱像儀
TiR4FT | 美國福祿克FLUKE | 校準溫度范圍：-20 ˚C至100 ˚C（-4 oF至212 oF） | 洽詢
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| 紅外熱像儀
FLIR E4 | 美國FLIR | 精度 ±2℃或讀數(shù)的±2%，環(huán)境溫度10℃-35℃，對象溫度+0℃以上 | 洽詢
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| 紅外熱像儀
FLIR E5 | 美國FLIR | 精度 ±2℃或讀數(shù)的±2%，環(huán)境溫度10℃-35℃，對象溫度+0℃以上 | 洽詢
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| 紅外熱像儀
FLIR E6 | 美國FLIR | 精度 ±2℃或讀數(shù)的±2%，環(huán)境溫度10℃-35℃，對象溫度+0℃以上 | 洽詢
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| 紅外熱像儀
FLIR E8 | 美國FLIR | 精度 ±2℃或讀數(shù)的±2%，環(huán)境溫度10℃-35℃，對象溫度+0℃以上 | 洽詢
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| 紅外熱像儀
FLIR i5 | 美國FLIR | 視場角:
21°(H) x 21°(V) | 洽詢
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